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機臺說明
紫外可見分光光度計,是以紫外線可見光區域電磁波連續光譜作為光源照射樣品,研究物質分子對光吸收的相對強度的方法。物質中的分子或基團,吸收了入射的紫外-可見光能量,電子間能級躍遷產生具有特征性的紫外-可見光譜,可用于確定化合物的結構和表征化合物的性質。
可用于EVA、POE等材料的透光率、反射率、霧度檢測等。
技術參數
◆波長范圍:200 - 2500 nm
◆帶寬(分辨率):0.17 nm–5.00 nm 以 0.01 nm 的間隔連續可調
◆雜散光:0.0001%T,在220, 340, 和370 nm 按ASTM E-387 法測量
◆波長準確度:±0.2 nm
◆波長精度:≤0.06nm
◆光度計準確度:± 0.0006 A (Double Aperture Method ,0.3 A)
◆光度計精度:≤ 0.001 A (1A, NIST 930D Filter)
◆基線:基線漂移:≤ 0.0005 A/h (500 nm, 0A)
◆基線平直:≤0.0008A (200 nm – 850 nm)
◆噪聲:≤0.00005 A(0A,500 nm 均方根)